產(chǎn)品中心
Product Center
熱門(mén)搜索：
激光粒度分析儀
納米粒度電位儀系列
真空封管機(jī)系統(tǒng)
CHI600E系列通用電化學(xué)工作站
微納3D打印機(jī)
磁控離子濺射儀
常溫壓電d33測(cè)試儀
Energylab XM 電化學(xué)工作站
VersaSCAN微區(qū)掃描電化學(xué)工作站
Bruker Hysitron Tl 980納米壓痕儀
IM4000Ⅱ標(biāo)準(zhǔn)離子研磨儀
CHI760E系列電化學(xué)工作站
GVC-3000熱蒸發(fā)鍍碳儀
材料試驗(yàn)機(jī)
1470 celltest電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
ArBlade5000高性能研磨儀
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心電鏡樣品制備精密離子減薄儀
product
產(chǎn)品分類(lèi)
PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀用于高質(zhì)量透射電鏡樣品的制備，它可精確定位減薄位置并對(duì)工藝參數(shù)進(jìn)行精確控制
更新時(shí)間：2024-11-18
產(chǎn)品型號(hào)：PIPS Ⅱ
瀏覽量：222
