產(chǎn)品中心
Product Center
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心電鏡樣品制備精密離子減薄儀PIPS Ⅱ精密離子減薄儀
精密離子減薄儀
產(chǎn)品簡介
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電氣,綜合 |
PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀用于高質(zhì)量透射電鏡樣品的制備，它可精確定位減薄位置并對工藝參數(shù)進行準確控制。
PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀設(shè)備特點：
使用 X、Y 樣品臺來把減薄區(qū)域精確定位到離子束交叉點
改進低電壓性能的離子槍，有用電壓低至 100 伏，從而快速安全地對 FIB 制備的TEM樣品進行拋光
利用 DigitalMicrograph 軟件和光學數(shù)碼顯微鏡進行圖像存儲和分析
10 英寸彩色觸摸屏可用于顯示和控制所有 PIPS II 參數(shù)
公司深耕國內(nèi)科研市場近十年，以中科院等專業(yè)院所背景的技術(shù)力量為依托， 為國內(nèi)各大科研機構(gòu)及材料研究客戶提供科研儀器設(shè)備和專業(yè)技術(shù)服務(wù)。公司以代理國內(nèi)外材料化工方向的儀器設(shè)備為核心業(yè)務(wù)，產(chǎn)品覆蓋材料制備、表征、光、熱、 電、磁等研究領(lǐng)域。
上一個：
返回列表
