產(chǎn)品中心
Product Center當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心測(cè)試設(shè)備光學(xué)測(cè)試設(shè)備Sendira紅外光譜橢偏儀
Sendira紅外光譜橢偏儀
product
產(chǎn)品分類SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測(cè)量紅外分子振動(dòng)模的吸收譜帶,分析長(zhǎng)分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測(cè)量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。
光譜橢偏儀SENDIRA用于測(cè)量薄膜厚度,折射率,消光系數(shù)以及體材料,單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見(jiàn)范圍內(nèi)是不透明的,現(xiàn)在也可以進(jìn)行測(cè)量。同時(shí)可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。